一种阵列基板的测试电路及液晶显示器的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种阵列基板的测试电路及液晶显示器，该阵列基板包括多条栅极线、多条数据线、IC电路及柔性电路板，该测试电路设在阵列基板上，其包括：多个控制开关；控制信号线；多条测试信号线；其中，多条测试信号线从外部输入数据线的信号，多个控制开关的所述输出端与多条数据线一一对应连接，不同的测试信号线通过控制开关连接一部分不同区域的所述数据线，以使阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的数据线的信号。本发明的一种阵列基板的测试电路解决了现有技术在电路测试时，只能提供单一模式的画面，因而测试功能不高的问题。
【专利说明】
一种阵列基板的测试电路及液晶显示器
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示器领域，特别涉及一种阵列基板的测试电路及液晶显示器。【【背景技术】】
[0002]目前，作为最广泛使用的平板显示设备其中之一的液晶显示器(IXD)包括两个显示面板和插入在两个显示面板之间的液晶层，其中所述两个显示面板具有装配在其上的场产生电极(诸如像素电极和共电极)C3LCD通过向场产生电极施加电压而在液晶层内产生电场，因而确定液晶层的液晶分子的排列并控制入射光的极性，由此显示图像。
[0003]液晶面板向轻薄化和低功耗等方向发展，是目前市场中的显示装置的发展趋势，随着高像素密度及低功耗等方面的需求，相应的产品良率会有影响，为提升成盒后的产品良率，一般会在面板上设计测试电路，随着面板设计的减小，制程难度增加，会有相应的问题待解决，而通过测试电路测试是一种比较快的问题解析方法，目前小尺寸设计的普通测试电路多通过两个信号线把液晶面板显示区域内的奇偶像素连接在一起，这能有效的解析相应的问题，然后又因为只能提供比较单一的模式画面，而不能解析更多的问题，比如不能实现串扰画面的问题。另外，也不能降低显示区域内，奇数列像素或偶数列像素在通过电路测试时出现漏电而产生的影响。
【
【发明内容】
】
[0004]本发明的目的在于提供一种阵列基板的测试电路及液晶显示器，以提高电路测试的功能，解决现有技术中，测试电路只能提供单一模式的画面，而不能解析更多画面的问题，以及不能降低显示区域内奇数列(或偶数列)像素在通过电路测试时出现漏电而产生的影响。
[0005]本发明的技术方案如下:
[0006]—种阵列基板的测试电路，所述阵列基板包括多条栅极线、多条数据线、IC电路及柔性电路板，所述测试电路设在所述阵列基板上，其包括:
[0007]多个控制开关，每个所述控制开关包括控制端、输入端与输出端，用于控制多条测试信号线的信号输入与输出；
[0008]控制信号线，其与所述多个控制开关的所述控制端均连接，用于输入高电平信号或低电平信号，以控制所述多个控制开关的开启；
[0009]多条测试信号线，每条所述测试信号线与一部分所述控制开关的所述输入端连接，每个所述控制开关的所述输入端均与一条所述测试信号线连接，用于输入所述多条数据线的信号；
[0010]其中，所述多条测试信号线从外部输入所述数据线的信号，所述多个控制开关的所述输出端与所述多条数据线一一对应连接，不同的所述测试信号线通过所述控制开关连接一部分不同区域的所述数据线，以使所述阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的所述数据线的信号。
[0011]优选地，所述多条数据线由多条奇数列数据线与多条偶数列数据线组成，每条所述测试信号线通过所述控制开关连接一部分所述奇数列数据线，或连接一部分所述偶数列数据线，且每条所述数据线均与其中一条所述测试信号线连接。
[0012]优选地，当进行电路测试时，所述奇数列数据线输入正电位信号，所述偶数列数据线输入低电位信号。
[0013]优选地，所述测试信号线设有4条，分别为第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线与第四测试信号线；所述不同区域包括沿栅极线延伸方向依次划分的左边区域、中部区域及右边区域;所述多条数据线与所述栅极线垂直设置，对应包括左边区域数据线、中部区域数据线与右边区域数据线；
[0014]所述第一测试信号线通过所述控制开关连接所述左边区域数据线与所述右边区域数据线中的奇数列数据线，所述第二测试信号线通过所述控制开关连接所述左边区域数据线与所述右边区域数据线中的偶数列数据线，所述第三测试信号线通过所述控制开关连接所述中部区域数据线中的奇数列数据线，所述第四测试信号线通过所述控制开关连接所述中部区域数据线中的偶数列数据线。
[0015]优选地，在电路测试的一帧时间内，所述第一测试信号线与所述第二测试信号线在前三分之一帧时间内，输入第一灰阶的信号，在第二个三分之一帧的时间内，输入第二灰阶的信号，在最后三分之一帧的时间内，输入所述第一灰阶的信号；
[0016]所述第三测试信号线与所述第四测试信号线前三分之一帧时间内，输入所述第二灰阶的信号，在第二个三分之一帧的时间内，输入所述第一灰阶的信号，在最后三分之一帧的时间内，输入所述第二灰阶的信号，且所述第一灰阶的绝对值大于所述第二灰阶的绝对值，以实现棋盘格的显示画面。
[0017]优选地，所述控制信号线与所述柔性电路板连接，所述高电平信号与所述低电平信号由所述柔性电路板输入所述控制信号线。
[0018]优选地，所述测试信号线分为第一组所述测试信号线和第二组所述测试信号线，将显示面板的显示区沿栅极线延伸方向依次划分为多个不同区域，所述不同区域包括间隔设置的多个奇数列区域和多个偶数列区域；
[0019]所述第一组所述测试信号线与每一所述奇数列区域内的控制开关对应连接，以控制所述奇数列区域输入相同的数据信号;所述第二组所述测试信号线与每一所述偶数列区域内的控制开关对应连接，以控制所述偶数列区域输入相同的数据信号。
[0020]优选地，所述第一组所述测试信号线包括第一测试信号线和第二测试信号线，所述第二组所述测试信号线包括第三测试信号线与第四测试信号线；
[0021]所述第一测试信号线通过所述控制开关连接每一所述奇数列区域中的奇数列数据线，所述第二测试信号线通过所述控制开关连接每一所述奇数列区域中的偶数列数据线;所述第三测试信号线通过所述控制开关连接每一所述偶数列区域中的奇数列数据线，所述第四测试信号线通过所述控制开关连接每一所述偶数列区域中的偶数列数据线。
[0022]优选地，每条所述测试信号线的两端均设有金属端子，所述金属端子用于输入所述数据线的信号，当所述测试电路工作时，所述数据线的信号同时从每条所述测试信号线两端的所述金属端子输入。
[0023]一种液晶显示器，该液晶显示器包括上述任一项所述的阵列基板的测试电路。
[0024]本发明的有益效果:
[0025]本发明的一种阵列基板的测试电路，通过在测试电路增加两条测试信号线，并将其分别连接到显示区域不同区域的奇数列数据线或者偶数列数据线，以使所述阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的所述数据线的信号，进而可以使所述显示区域的不同区域在电路测试时可显示不同的画面，解决了现有技术在电路测试时，只能提供单一模式的画面，因而测试功能不高的问题。另外，当停止电路测试时，本发明多条测试信号线的设计，也可以降低测试电路漏电的影响。
【【附图说明】】
[0026]图1为本发明实施例中的一种阵列基板的测试电路的整体结构示意图；
[0027]图2为本发明实施例中的一种阵列基板的测试电路在实现串扰画面时的一种时序图；
[0028]图3为本发明实施例中的一种阵列基板的测试电路在实现棋盘格画面时的一种时序图；
[0029]图4为本发明实施例中的阵列基板上的显示区域呈现棋盘格画面的示意图。
【【具体实施方式】】
[0030]以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
[0031 ] 实施例一
[0032]请参考图1，图1为本施例中的一种阵列基板的测试电路的整体结构示意图，所述阵列基板包括多条栅极线、多条数据线、IC电路及柔性电路板，所述测试电路设在所述阵列基板上，从图1可以看到，本发明的一种阵列基板的测试电路包括:
[0033]多个控制开关60，每个所述控制开关60包括控制端、输入端与输出端，用于控制多条测试信号线的信号输入与输出。从IC集成电路引出多条IC电路引线，这些IC电路引线均与所述多个控制开关60的所述输出端连接，当停止电路测试时，由这些IC电路引线向阵列基板显示区的数据线输入数据线信号。
[0034]在本实施例中，所述控制开关60为薄膜晶体管，所述控制端为栅极端，所述输入端为源极端，所述输出端为漏极端。
[0035]控制信号线50，其与所述多个控制开关60的所述控制端均连接，用于输入高电平信号或低电平信号，以控制所述多个控制开关60的开启。
[0036]在本实施例中，所述控制信号线50与所述柔性电路板连接，所述高电平信号与所述低电平信号由所述柔性电路板输入所述控制信号线50。
[0037]多条测试信号线，每条所述测试信号线与一部分所述控制开关60的所述输入端连接，每个所述控制开关60的所述输入端均与一条所述测试信号线连接，用于输入所述多条数据线的信号。
[0038]在本实施例中，所述多条数据线由多条奇数列数据线与多条偶数列数据线组成，每条所述测试信号线通过所述控制开关60连接一部分所述奇数列数据线，或连接一部分所述偶数列数据线，且每条所述数据线均与其中一条所述测试信号线连接。
[0039]在本实施例中，当进行电路测试时，所述奇数列数据线输入正(负)电位信号，所述偶数列数据线输入负(正)电位信号。这样做的好处是，可以避免液晶显示面板出现闪烁的问题，因为在显示区域的同一个地方输入绝对值大小相等的正电压和负电压，该地方的显示亮度是一样的，如果所有像素都输入一样的正电压或负电压，显示区域周边的地方的亮度就没有中间部分的亮度高，因为显示区域中间部分的像素电压会比周边的像素电压高，整个显示区域不同的区域会出现不同程度的压差，导致亮度不均匀。
[0040]其中，所述多条测试信号线从外部输入所述数据线的信号，所述多个控制开关60的所述输出端与所述多条数据线一一对应连接，不同的所述测试信号线通过所述控制开关60连接一部分不同区域的所述数据线，以使所述阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的所述数据线的信号。
[0041 ]在本实施例中，所述测试信号线分为第一组所述测试信号线和第二组所述测试信号线，将显示面板的显示区沿栅极线延伸方向依次划分为多个不同区域，所述不同区域包括间隔设置的多个奇数列区域和多个偶数列区域；
[0042]所述第一组所述测试信号线与每一所述奇数列区域内的控制开关60对应连接，以控制所述奇数列区域输入相同的数据信号;所述第二组所述测试信号线与每一所述偶数列区域内的控制开关60对应连接，以控制所述偶数列区域输入相同的数据信号。
[0043]在本实施例中，所述第一组所述测试信号线包括第一测试信号线10和第二测试信号线20，所述第二组所述测试信号线包括第三测试信号线30与第四测试信号线40;
[0044]所述第一测试信号线10通过所述控制开关60连接每一所述奇数列区域中的奇数列数据线，所述第二测试信号线20通过所述控制开关60连接每一所述奇数列区域中的偶数列数据线;所述第三测试信号线30通过所述控制开关60连接每一所述偶数列区域中的奇数列数据线，所述第四测试信号线40通过所述控制开关60连接每一所述偶数列区域中的偶数列数据线。
[0045]在本实施例中，所述测试信号线设有4条，分别为第一测试信号线10、第二测试信号线20、第三测试信号线30与第四测试信号线40;所述不同区域包括沿栅极线延伸方向依次划分的左边区域、中部区域及右边区域;所述多条数据线与所述栅极线垂直设置，对应包括左边区域数据线、中部区域数据线与右边区域数据线；
[0046]所述第一测试信号线10通过所述控制开关60连接所述左边区域数据线与所述右边区域数据线中的奇数列数据线，所述第二测试信号线20通过所述控制开关60连接所述左边区域数据线与所述右边区域数据线中的偶数列数据线，所述第三测试信号线30通过所述控制开关60连接所述中部区域数据线中的奇数列数据线，所述第四测试信号线40通过所述控制开关60连接所述中部区域数据线中的偶数列数据线。
[0047]如图2所示，图2为本发明实施例中的一种阵列基板的测试电路在实现串扰画面时的一种时序图。在本实施例中，所述第一测试信号线10和所述第二测试信号线20优选只输入灰阶值为127的灰阶信号，所述第三测试信号线30与所述第四测试信号线40前三分之一帧时间内，输入灰阶值为127的灰阶信号的，在第二个三分之一帧的时间内，输入灰阶值为255的灰阶信号，在最后三分之一帧的时间内，输入灰阶值为127的灰阶信号，这样便使测试电路在进行测试时，在显示区域实现串扰画面。当然灰阶值为127的灰阶信号和灰阶值为255的灰阶信号，是作为优选值的，还可以选择其它可以让显示区域在电路进行测试时，呈现串扰画面的灰阶值。
[0048]如图3所示，图3为本实施例中的一种阵列基板的测试电路在实现棋盘格画面时的一种时序图，在本实施例中，在电路测试的一帧时间内，所述第一测试信号线10与所述第二测试信号线20在前三分之一帧时间内，输入第一灰阶的信号，在第二个三分之一帧的时间内，输入第二灰阶的信号，在最后三分之一帧的时间内，输入所述第一灰阶的信号；
[0049]所述第三测试信号线30与所述第四测试信号线40前三分之一帧时间内，输入所述第二灰阶的信号，在第二个三分之一帧的时间内，输入所述第一灰阶的信号，在最后三分之一帧的时间内，输入所述第二灰阶的信号，且所述第一灰阶的绝对值大于所述第二灰阶的绝对值，以实现棋盘格的显示画面。
[0050]请参考图4，图4为本发明实施例中的阵列基板上的显示区域呈现棋盘格画面的示意图。从图中可以看到，显示区域内每个像素区域内的画面与其相邻像素的画面均不同，亮度差别较大。其中亮度比较大的为亮画面90，亮度比较暗的画面为暗画面80。
[0051 ]在本实施中，所述第一灰阶的绝对值大小优选为255，所述第二灰阶的绝对值大小优选为127。
[0052]在本实施例中，每条所述测试信号线的两端均设有金属端子，所述金属端子用于输入所述数据线的信号，当所述测试电路工作时，所述数据线的信号同时从每条所述测试信号线两端的所述金属端子输入。
[0053]本发明的一种阵列基板的测试电路，通过在测试电路上增加两条测试信号线，并将其分别连接到显示区域不同区域的奇数列数据线或者偶数列数据线，以使所述阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的所述数据线的信号，进而可以使所述显示区域的不同区域在电路测试时可显示不同的画面，解决了现有技术在电路测试时，只能提供单一模式的画面，因而测试功能不高的问题。另外，当停止电路测试时，本发明多条测试信号线的设计，也可以降低测试电路漏电的影响。
[0054]本发明还提供了一种液晶显示器，其包括一阵列基板，所述阵列基板包括多条栅极线、多条数据线、IC电路及柔性电路板，所述测试电路设在所述阵列基板上。所述测试电路如前所述，在此不再重复。
[0055]在本实施例中，所述多条数据线由多条奇数列数据线与多条偶数列数据线组成，每条所述测试信号线通过所述控制开关60连接一部分所述奇数列数据线，或连接一部分所述偶数列数据线，且每条所述数据线均与其中一条所述测试信号线连接，当进行电路测试时，所述奇数列数据线输入正电位信号，所述偶数列数据线输入低电位信号。
[0056]可以理解的是，在其他实施例中，当进行电路测试时，所述奇数列数据线也可以输入负电位信号，而所述偶数列数据线对应输入正电位信号。
[0057]本发明的一种液晶显示器，通过在其测试电路上增加两条测试信号线，并将其分别连接到显示区域不同区域的奇数列数据线或者偶数列数据线，以使所述阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的所述数据线的信号，进而可以使所述显示区域的不同区域在电路测试时可显示不同的画面，解决了现有技术在电路测试时，只能提供单一模式的画面，因而测试功能不高的问题。另外，当停止电路测试时，本发明多条测试信号线的设计，也可以降低测试电路漏电的影响。
[0058]综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
【主权项】
1.一种阵列基板的测试电路，所述阵列基板包括多条栅极线、多条数据线、IC电路及柔性电路板，其特征在于，所述测试电路设在所述阵列基板上，其包括: 多个控制开关，每个所述控制开关包括控制端、输入端与输出端，用于控制多条测试信号线的信号输入与输出； 控制信号线，其与所述多个控制开关的所述控制端均连接，用于输入高电平信号或低电平信号，以控制所述多个控制开关的开启； 多条测试信号线，每条所述测试信号线与一部分所述控制开关的所述输入端连接，每个所述控制开关的所述输入端均与一条所述测试信号线连接，用于输入所述多条数据线的信号； 其中，所述多条测试信号线从外部输入所述数据线的信号，所述多个控制开关的所述输出端与所述多条数据线一一对应连接，不同的所述测试信号线通过所述控制开关连接一部分不同区域的所述数据线，以使所述阵列基板的显示区域的不同区域可输入不同的所述数据线的信号。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述多条数据线由多条奇数列数据线与多条偶数列数据线组成，每条所述测试信号线通过所述控制开关连接一部分所述奇数列数据线，或连接一部分所述偶数列数据线，且每条所述数据线均与其中一条所述测试信号线连接。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，当进行电路测试时，所述奇数列数据线输入正电位信号，所述偶数列数据线输入低电位信号。4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试信号线设有4条，分别为第一测试信号线、第二测试信号线、第三测试信号线与第四测试信号线;所述不同区域包括沿栅极线延伸方向依次划分的左边区域、中部区域及右边区域;所述多条数据线与所述栅极线垂直设置，对应包括左边区域数据线、中部区域数据线与右边区域数据线； 所述第一测试信号线通过所述控制开关连接所述左边区域数据线与所述右边区域数据线中的奇数列数据线，所述第二测试信号线通过所述控制开关连接所述左边区域数据线与所述右边区域数据线中的偶数列数据线，所述第三测试信号线通过所述控制开关连接所述中部区域数据线中的奇数列数据线，所述第四测试信号线通过所述控制开关连接所述中部区域数据线中的偶数列数据线。5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，在电路测试的一帧时间内，所述第一测试信号线与所述第二测试信号线在前三分之一帧时间内，输入第一灰阶的信号，在第二个三分之一帧的时间内，输入第二灰阶的信号，在最后三分之一帧的时间内，输入所述第一灰阶的信号； 所述第三测试信号线与所述第四测试信号线前三分之一帧时间内，输入所述第二灰阶的信号，在第二个三分之一帧的时间内，输入所述第一灰阶的信号，在最后三分之一帧的时间内，输入所述第二灰阶的信号，且所述第一灰阶的绝对值大于所述第二灰阶的绝对值，以实现棋盘格的显示画面。6.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述控制信号线与所述柔性电路板连接，所述高电平信号与所述低电平信号由所述柔性电路板输入所述控制信号线。7.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试信号线分为第一组所述测试信号线和第二组所述测试信号线，将显示面板的显示区沿栅极线延伸方向依次划分为多个不同区域，所述不同区域包括间隔设置的多个奇数列区域和多个偶数列区域； 所述第一组所述测试信号线与每一所述奇数列区域内的控制开关对应连接，以控制所述奇数列区域输入相同的数据信号;所述第二组所述测试信号线与每一所述偶数列区域内的控制开关对应连接，以控制所述偶数列区域输入相同的数据信号。8.根据权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第一组所述测试信号线包括第一测试信号线和第二测试信号线，所述第二组所述测试信号线包括第三测试信号线与第四测试信号线； 所述第一测试信号线通过所述控制开关连接每一所述奇数列区域中的奇数列数据线，所述第二测试信号线通过所述控制开关连接每一所述奇数列区域中的偶数列数据线;所述第三测试信号线通过所述控制开关连接每一所述偶数列区域中的奇数列数据线，所述第四测试信号线通过所述控制开关连接每一所述偶数列区域中的偶数列数据线。9.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，每条所述测试信号线的两端均设有金属端子，所述金属端子用于输入所述数据线的信号，当所述测试电路工作时，所述数据线的信号同时从每条所述测试信号线两端的所述金属端子输入。10.—种液晶显示器，其特征在于，该液晶显示器包括如权利要求1-9任一项所述的阵列基板的测试电路。
【文档编号】G09G3/00GK106066560SQ201610679316
【公开日】2016年11月2日
【申请日】2016年8月17日
【发明人】马亮
【申请人】武汉华星光电技术有限公司