专利名称：修复像素缺陷的方法及影像显示系统的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及影像显示系统，且特别是涉及一种修复像素缺陷的方法及包 含其方法制成结构的影像显示系统。
背景技术：
随着影像质量要求的提升，液晶显示器的像素密度亦随之提升。然而，
像素密度提升表示工艺的临界尺寸(critical dimension, CD)下降。就相邻的像 素而言，像素电极会因其光刻蚀刻工艺的差异，而留下部分区域残留，造成 相邻的像素电极相连，此缺陷造成像素亮点。 一般而言，像素亮点超过3个 以上的面板，就无法被消费者接受，仅能归为次级品出货，或是直接报废， 造成制造成本增加。更有甚者，由于一般像素电极由透明氧化物导体构成， 例如铟锡氧化物(简称ITO),不易由肉眼检测判断，往往在组装之后才测试 发现，因而造成制造成本的损失。
为解决上述相邻像素电极残留或相连的问题，传统方法以点墨法或激光 烧熔(laserwelding)，将亮点缺陷暗化。图1为显示传统修复亮点缺陷的有源 元件阵列基板平面图。请参阅图l,一有源元件阵列基板10包括一像素阵列， 各个像素由平行的栅极线7与数据线6所围的区域构成，例如相邻的像素 PX1及PX2。各像素包括一有源元件TFT与一储存电容Csc对应一液晶胞。 当相邻的两像素电极9间存在像素电极残留9a、 9b或相连时，此相邻的像 素便是亮点缺陷。传统的方法将部份储存电容Csc，例如位置20，以激光烧 炫(laserwelding)直接造成该像素断路。然而，直接以激光烧熔储存电容Csc， 属破坏性烧除，造成该像素永久性破坏，而牺牲了该像素。
有鉴于此，为了有效提升产品等级，业界企需一种修复亮点缺陷像素的 方法，无需将亮点破坏成暗点，而影响产品等级。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种修复液晶显示器亮点缺陷的方
法，藉由控制激光的聚焦与能量直接将像素电极残留或相连烧开，保留该像 素的功能。
为达成上述目的，本发明提供一种修复像素缺陷的方法，包括提供一 待测的有源元件基板；执行阵列测试(array test)该有源元件基板；以及当有 源元件基板上的相邻两个像素有一电极相连缺陷时，执行一激光烧除步骤， 修复相邻两个像素。
为达成上述目的，本发明还提供一种影像显示系统，包括 一液晶显示 器面板，包括一有源元件基板、 一彩色滤光层基板、以及一液晶层夹置于有 源元件基板与彩色滤光层基板之间；其中该有源元件基板上的相邻两个像素 电极具一激光烧除结构。
应注意的是，上述影像显示系统还包括一控制器耦接至该液晶显示器面 板，且4艮据一输入信号控制该液晶显示器面板使之产生影像，以及一输入装 置耦接至该控制器，以提供该液晶显示器面板显示影像的依据。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下配合附图以及 优选实施例，以更详细地说明本发明。
图1为显示传统修复亮点缺陷的有源元件阵列基板平面图； 图2为显示根据本发明实施例的修复亮点缺陷的有源元件阵列基板的平 面图3为显示根据本发明实施例的修复亮点缺陷的有源元件阵列基板的流 程图4为显示图2沿A-A'切割线的剖面图5为显示根据图2修复后的有源元件基板与一彩色滤光层基板组合后 形成的液晶显示器的示意图6为显示根据本发明实施例的显示系统包含显示器面板的液晶显示器 模块的方块示意图；以及
图7为显示根据本发明实施例包含显示器模块的电子装置的方块示意图。
简单符号说明
现有部分(图1)
10 有源元件阵列基板；14a、 14b 源极/漏极；14c 下电极；5~共同电 极线；6 数据线；7~栅极线；9-像素电极；9a、 9b 像素电极残留或相连； 12 栅极电极；15 上电极；18~接触栓；PX1、 PX2 像素；TFT 有源元件； Csc^f^存电容。
本发明部分(第2~7图)
100 有源元件阵列基板；102a、 102b 緩冲层；103a、 103b^栅极介电层； 114a、 114b 源极/漏极；114c 下电极；105 共同电极线；106 数据线；107~ 栅极线；108a、 108b 层间介电层；109 像素电极；112 栅极电极；113~平 坦化层；U5 上电极；118~接触栓；120 激光切割轨迹；PX1、 PX2一象素； TFT 有源元件；Csc 储存电容；S32-S38 修复像素缺陷的步骤；200~上基 板；300 液晶层；150 下偏光板；250 上偏光板；500 显示器面板；600 控制器；700 显示器模块；800 输入元件；900-电子装置。
具体实施例方式
本发明涉及一种修复液晶显示器基板点缺陷的方法，当遇到不可见的像 素电极残留或相连时，直接利用激光将该像素电极的周边区域的像素电极残 留或相连切一圈，如此并不会伤害到像素电极之下的元件及材料层，也可以 将亮点缺陷直接修补成功，除了不需要牺牲像素，直接修复亮点使其维持正 常功能。以下针对本发明实施方式，详细描述如下
图2为显示根据本发明实施例的修复亮点缺陷的有源元件阵列基板的平 面图。请参阅图2， 一有源元件阵列基板100包括一像素阵列，各个像素由 平行的栅极线107与数据线106所围的区域构成，例如相邻的像素PX1及 PX2。各像素包括一有源元件TFT与一储存电容Csc对应一液晶胞。有源元 件TFT包括薄膜晶体管，本实施例以顶栅式极薄膜晶体管(top gate TFT)为 例，然非用以限定本发明。各个薄膜晶体管包括一栅极电极112与栅极线107 电连接， 一源极/漏极114a、 114b与数据线106电连接。各个储存电容Csc 包括一下电极114c与一上电极115，其间夹置一介电层(未图示)。下电极114c 与薄膜晶体管的漏极U4b电连接，上电极115与一共同电极线105电连接。 薄膜晶体管的漏极U4b另透过一接触栓118与像素电极109电连接。当相 邻的两像素电极109间存在像素电极残留或相连时，此相邻的像素便是亮点 缺陷。
大体而言，l象素电极残留或相连分为可见及不可见的两种状态，当CD 越来越小，此种现象会越来越严重。当我们遇到不可见的像素电极残留或相 连时，便需要进行一激光烧除步骤将像素电极的周围，以激光切一圏，如图 2的轨迹120，便可以将亮点直接修复。或者，若可判定像素电极残留或相 连的确实位置时，直接进行部份烧除，将像素电极残留或相连处，以激光切 开。
根据本发明的一实施例，切割像素电极残留或相连所使用的激光的波长 可为355纳米(nm)，其功率依像素电极的厚度与材料而有所不同，以本实施 例为例，像素电极109材料为ITO,厚度约为750A,激光的功率范围即约 介于4.5-6.75微焦耳0J)，激光聚焦的尺寸于横轴与纵轴方向皆约为7-9微米 Oim),聚焦的激光的扫描速度约15-20微米/秒0im/s)。由于激光仅聚焦于表 面，因此只有像素电极残留或相连会受到激光破坏，并不会损及其它元件部 分。
图3为显示根据本发明实施例的修复亮点缺陷的有源元件阵列基板的流 程图。请参阅图3，本发明实施例提供一种修复像素缺陷的方法，包括提 供一待测的有源元件基板(步骤S32),并执行阵列测试(array test)该有源元件 基板(步骤S34)，接着，当测试结果检出有源元件基板上的相邻两个像素有 一像素电极残留或桥连缺陷时，执行一激光烧除步骤，修复该相邻两个像素 (步骤S36)。经过激光修复的有源元件阵列基板在经过后续工艺步骤，例如 与彩色滤光层基板组合及填充液晶层步骤后，即完成液晶显示器元件(步骤 S38)。
图4为显示图2沿A-A，切割线的剖面图。于图4中， 一緩沖层包括一 氮化硅层102a与一氧化硅层102b设置于一透明基板101上。半导体层104c 包括低温多晶硅层或非晶质硅层设置于氧化硅层102b上，作为储存电容的 下电极，另一端经接触栓118与像素电极109电连接，且延伸部分与薄膜晶 体管的漏极电连接。 一栅极介电层包括氧化硅层103a与氮化硅层103b设置 于半导体层104c上作为储存电容的介电层。 一第一金属层105例如钼，设 置于氮化硅层103b上，作为储存电容的上电极。 一层间介电层包括氧化硅 层108a与氮化硅层108b覆盖该第一金属层105与基板101。一平坦化层113 设置于氮化硅层108b上，像素电极109设置于平坦化层113上。
当遇到不可见的像素电极残留或相连时，可直接以激光将像素电极109
周围切一圏，形成一开口，由于激光聚焦于像素电极109，因此并不会伤害 到像素电极之下的元件，可将亮点缺陷直接修补成功。
图5为显示包含图2修复后的有源元件基板的液晶显示器的示意图。请 参阅图5， 一液晶显示器面板500包4舌一上基板200(例如彩色滤光层基板)、 一下基板100(例如有源元件阵列基板)，其间夹以一液晶层300。上偏光板 250或其它光学补偿膜设置于上基板200上，以及下偏光板150或其它光学 补偿膜设置于下基板100底部。
图6为显示根据本发明实施例的影像显示系统包含一液晶显示器面板 500的液晶显示器模块700。 一液晶显示器面板500耦接至一控制器600，以 构成一显示器模块700。于图6中，液晶显示器面板500包括一源极(source) 与栅极(gate)的驱动电路(未图标)，以控制液晶显示器模块700。控制器600 包括一信号转换器(converter)，可将输出信号传送至液晶显示器面板500，使 其显示影像。
图7为显示根据本发明实施例包含显示器模块700的电子装置900的方 块示意图。 一输入元件800耦接至显示器模块700的控制器600。输入元件 800包括一微处理器，以将信号输入至控制器600，经处理后显示影像。电 子装置900包括例如个人数字助理(PDA)、携带式手机(mobilephone)、笔记 型计算机、手提电脑或其它可携式电子装置。
虽然本发明以优选实施例揭露如上，然而其并非用以限定本发明，本领 域的技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，可作些许的更动与润饰，因 此本发明的保护范围应当以后附的权利要求所界定者为准。
权利要求
1.一种修复像素缺陷的方法，包括提供待测的有源元件基板；执行阵列测试该有源元件基板；以及当有源元件基板上的相邻两个像素有电极相连缺陷时，执行激光烧除步骤，修复该相邻两个像素。
2. 如权利要求1所述的修复像素缺陷的方法，其中该激光烧除步骤包括 以激光烧除该相邻两个像素电极的四周。
3. 如权利要求1所述的修复像素缺陷的方法，其中该激光烧除步骤包括 以一激光烧除该电极相连缺陷的位置。
4. 如权利要求1所述的修复像素缺陷的方法，其中该激光烧除步骤包括 以波长355纳米的激光烧除。
5. 如权利要求1所述的修复像素缺陷的方法，其中该激光烧除步骤包括 以能量范围4.5至6.75微焦耳的激光烧除。
6. 如权利要求1所述的修复像素缺陷的方法，其中该激光烧除步骤包括 以聚焦于横轴与纵轴方向皆约为7至9微米的激光烧除。
7. 如权利要求1所述的修复像素缺陷的方法，其中该激光烧除步骤包括 以扫描速度15至20微米/秒的激光烧除。
8. —种影像显示系统，包括 液晶显示器面板，包括 有源元件基板； 彩色率光层基板；以及液晶层夹置于该有源元件基板与该彩色率光层基板之间； 其中该有源元件基板上的相邻两个像素电极具激光烧除结构。
9. 如权利要求8所述的影像显示系统，还包括控制器耦接至该液晶显示 器面板，且根据输入信号控制该液晶显示器面板使的产生影像。
10. 如权利要求8所述的影像显示系统，还包括输入装置耦接至该控制 器，以提供该液晶显示器面板显示影像的依据。
全文摘要
本发明提供一种修复像素缺陷的方法及包含其方法制成结构的影像显示系统。上述修复像素缺陷的方法，包括提供一待测的有源元件基板；执行阵列测试(array test)该有源元件基板；以及当有源元件基板上的相邻两个像素有一电极相连缺陷时，执行一激光烧除步骤，使其不相连而达到修复两个像素。
文档编号G02F1/136GK101109852SQ20061010345
公开日2008年1月23日 申请日期2006年7月21日 优先权日2006年7月21日
发明者叶怡君, 杨舒如, 钰 罗, 蔡善宏, 陈素芬 申请人:统宝光电股份有限公司