用于显示模组的老化测试系统的利记博彩app
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及显示模组的测试技术，特别是涉及一种用于显示模组的老化测试系统。
【背景技术】
[0002]对于手机和平板的显示模组，大部分都要求进行刷屏测试(即老化测试，让显示模组不断的进行红、绿、蓝、黑、白、灰等画面的显示)，以检测显示模组的老化性能，尤其是在模组的LCD(即玻璃)设计上有风险或漏洞时，这种测试往往备受模组厂客户的重视，并且要求出货全部进行刷屏检测，甚至不惜提供手机或平板主板给模组厂进行测试。传统都采用提供手机或平板(烧录了专用的刷屏程序)给模组厂来实现刷屏测试。
[0003]但是这样做，有以下几个缺点:
[0004]I)成本太高:手机或平板厂需要额外生产很多主板用于测试，因为在刷屏老化过程中会有很多主板报废；
[0005]2)测试方法复杂:每一片显示模组都需要连接一块主板进行测试；如果遇到需要模拟开关机过程与正常显示两种测试要求，还需要反复更新主板程序；
[0006]3)程序更新复杂、耗时:每当需要更新测试程序时，需要向每一个主板中烧录程序，而主板程序比较庞大，烧录时间长，因此时间成本较高。
[0007]4)商务过程复杂:部分手机或平板厂要求模组厂购买其手机或平板来做测试，这样导致模组厂成本提高，商务及交易过程复杂，甚至可能牵扯第三方(如玻璃厂等)。
【实用新型内容】
[0008]基于此，有必要提供一种不需要利用手机或平板的主板来进行显示模组的老化测试的老化测试系统。
[0009]一种用于显示模组的老化测试系统，包括:
[0010]测试主板，用于提供测试数据；
[0011]接口板，包括电源接口、数据接口和控制组件；所述电源接口用于与待测试的显示模组连接、以为所述显示模组提供电源，所述数据接口用于与待测试的显示模组连接、以向所述显示模组发送测试数据，所述控制组件用于与待测试的显示模组连接、以控制所述显示模组正常显示或进行老化测试。
[0012]在其中一个实施例中，所述控制组件包括用于与待测试的显示模组连接的接地开关。
[0013]在其中一个实施例中，所述接地开关包括相互配合的跳线和跳帽。
[0014]在其中一个实施例中，所述接口板还包括继电器和继电器控制电路；所述接口板包括用于输出5V电压的电源芯片，所述继电器的输出端与电源芯片的控制端连接，所述继电器控制电路的信号输出端与继电器的输入端连接。
[0015]在其中一个实施例中，所述继电器控制电路包括定时器和计数器中的至少一种。
[0016]在其中一个实施例中，所述接口板还包括工作电压电路，所述工作电压电路连接所述电源芯片和待测试显示模组的电源端，用于将5V电压转换成待测试显示模组所需的三路工作电压。
[0017]在其中一个实施例中，所述继电器包括强电继电器和弱点继电器，所述强电继电器输入220V电压作为电磁驱动工作电压，所述弱电继电器输出控制电压控制强电继电器；
[0018]所述继电器控制电路包括定时器和计数器，所述定时器输出控制信号控制所述弱电继电器，所述计数器输出控制信号控制所述强电继电器。
[0019]上述老化测试系统，通过使用可提供测试数据的主板和可以连接显示模组的接口板，可以仅使用一套系统就可以分别对多个显示模组进行测试，而不需要终端上的手机主板或平板电脑的主板来连接测试显示模组，因而具备较好的通用性。同时，其具备的控制组件，可以给出控制显示模组进入刷屏模式的控制信号，因而能够实现刷屏测试。
【附图说明】
[0020]图1为一实施例的老化测试系统模块图；
[0021]图2为图1中老化测试系统的详细模块图；
[0022]图3为图2中的继电器的组成及连接关系示意图。
【具体实施方式】
[0023]如图1所示，为一实施例的老化测试系统。该老化测试系统10用于对显示模组90进行显示老化测试。老化测试系统10包括测试主板100和接口板200。
[0024]测试主板100用于提供测试数据，也即让显示模组显示特定图像的数据，例如使显示模组显示红、绿、蓝、黑、白、横灰阶、竖灰阶以及Crosstalk等画面的数据。
[0025]接口板200包括电源接口 210、数据接口 220和控制组件230。电源接口 210用于与待测试的显示模组90连接、以为显示模组90提供电源。数据接口 220用于与待测试的显示模组90连接、以向显示模组90发送从测试主板100获得的测试数据。控制组件230用于与待测试的显示模组90连接、以控制显示模组90正常显示或进行老化测试。
[0026]显示模组90通常包括将测试数据转换为像素单元的电流或电压信号的驱动芯片，驱动芯片利用简单的高低电平信号控制其显示模式，例如是正常显示还是刷屏(可用于老化测试)。而控制组件230则用于提供控制显示模组90显示模式的信号，例如高低电平。
[0027]具体地，在一个实施例中，如图2所示，控制组件230包括用于与待测试的显示模组90连接的接地开关231和保护电阻Rl。接地开关231 —端接地，另一端通过保护电阻Rl连接至显示模组90。本实施例中，显示模组90的驱动芯片910具有控制其显示模式的引脚。接地开关231通过保护电阻Rl与该引脚连接。当接地开关231闭合时，引脚上为低电平，显示模组90将以刷屏模式运行，可进行老化测试。当接地开关231断开时，引脚上为高电平，显示模组90以正常模式运行。
[0028]在本实施例中，接地开关231包括相互配合的跳线和跳帽。跳帽平时以短接的方式放置在跳线针脚上。当需要对显示模组90进行老化测试时，只需要将显示模组90连接到本实施例的老化测试系统，施加工作电压，同时提供测试数据，老化测试即可自动开始。
[0029]进一步地，如图2所示，接口板200还包括继电器240、继电器控制电路250、电源芯片260和工作电压电路270。继电器240的输出端与电源芯片260的控制端连接，继电器控制电路250的信号输出端与继电器240的输入端连接。工作电压电路270连接电源芯片260和待测试显示模组90的电源端。电源芯片260用于输出5V电压，工作电压电路270用于将5V电压转换成待测试显示模组所需的三路工作电压VGH/VGL/AVDD，使得显示模组90可以点壳。
[0030]继电器控制电路250包括定时器和计数器中的至少一种。定时器可以按照设定的时间控制继电器240，计数器则可以按照设定的次数控制继电器240。如图3所示，继电器240包括强电继电器和弱点继电器，所述强电继电器输入220V电压作为电磁驱动工作电压，所述弱电继电器输出控制电压控制强电继电器。继电器控制电路250包括定时器和计数器，所述定时器输出控制信号控制所述弱电继电器，所述计数器输出控制信号控制所述强电继电器。
[0031]利用定时器和计数器，可以实现模拟开关机测试。显示模组的开关机，即对应电源的通断。而开关机的电源通断的模拟则需要对通断时间和频率进行控制，以达到模拟的效果。利用定时器和计数器，则可以达到这种效果。例如利用定时器将通断时间设定为与手机开、关的过程时间相近。通过定时器设定，可以针对手机与平板厂的需求，按照需要的频率进行模拟，从而实现显示模组的开关机过程的模拟与测试。
[0032]不管是前述的老化测试的刷屏，还是开关机模拟测试均可以选择按照时间长短来刷屏，或者按照一定次数来刷屏。按照时间长短来刷屏，即规定刷屏的总时间，按照一定次数来刷屏，即规定刷屏的总次数。这是通过选择使用定时器或者计数器来实现的，选择定时器，则可以按照时间长短；选择计数器，则可以按照一定次数来刷屏。
[0033]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0034]以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，包括: 测试主板，用于提供测试数据； 接口板，包括电源接口、数据接口和控制组件；所述电源接口用于与待测试的显示模组连接、以为所述显示模组提供电源，所述数据接口用于与待测试的显示模组连接、以向所述显示模组发送测试数据，所述控制组件用于与待测试的显示模组连接、以控制所述显示模组正常显示或进行老化测试。
2.根据权利要求1所述的用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，所述控制组件包括用于与待测试的显示模组连接的接地开关。
3.根据权利要求2所述的用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，所述接地开关包括相互配合的跳线和跳帽。
4.根据权利要求1所述的用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，所述接口板还包括继电器和继电器控制电路；所述接口板包括用于输出5V电压的电源芯片，所述继电器的输出端与电源芯片的控制端连接，所述继电器控制电路的信号输出端与继电器的输入端连接。
5.根据权利要求4所述的用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，所述继电器控制电路包括定时器和计数器中的至少一种。
6.根据权利要求4所述的用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，所述接口板还包括工作电压电路，所述工作电压电路连接所述电源芯片和待测试显示模组的电源端，用于将5V电压转换成待测试显示模组所需的三路工作电压。
7.根据权利要求4所述的用于显示模组的老化测试系统，其特征在于，所述继电器包括强电继电器和弱电继电器，所述强电继电器输入220V电压作为电磁驱动工作电压，所述弱电继电器输出控制电压控制强电继电器； 所述继电器控制电路包括定时器和计数器，所述定时器输出控制信号控制所述弱电继电器，所述计数器输出控制信号控制所述强电继电器。
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于显示模组的老化测试系统，包括：测试主板，用于提供测试数据；接口板，包括电源接口、数据接口和控制组件；所述电源接口用于与待测试的显示模组连接、以为所述显示模组提供电源，所述数据接口用于与待测试的显示模组连接、以向所述显示模组发送测试数据，所述控制组件用于与待测试的显示模组连接、以控制所述显示模组正常显示或进行老化测试。上述老化测试系统，可以仅使用一套系统就可以分别对多个显示模组进行测试，不需要利用手机或平板的主板来进行测试。
【IPC分类】G09G3-00, G02F1-13
【公开号】CN204463777
【申请号】CN201420823941
【发明人】李阳
【申请人】Tcl显示科技（惠州）有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2014年12月18日