专利名称：矩阵式阵列测试转接板的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及到一种矩阵式阵列测试转接板，用于测试LCM。
背景技术：
现有LCM的测试通过专用的测试仪器，用专用的测试软件系统，专用的测试连接系统或者用通用的测试软件系统，通过选择对应的测试软件来实现对不同产品的测试，通过各条线路连接到测试连接系统。专用测试仪器缺陷每个产品都专门的测试板，不好管理、存放和查找。通用测试主板带线路连接测试板的缺陷线路测试板需要用多条线路焊接或插接，很容易混淆，而且线路繁杂，容易出问题，而且出问题不易检查。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种矩阵式阵列测试转接板，以解决现有技术中存在测试费时、费力、易出错以及通用性不强的问题。为达到本实用新型的目的所采取的技术方案是一种矩阵式阵列测试转接板，其特征在于包括板体，板体设有正面测试金手指、40*44的矩阵阵列焊点区、两个标准20pin 连接器焊接区以及反面测试金手指，所述的40*44的矩阵阵列焊点区相邻焊点连接，两个标准20pin连接器焊接区通过导线与40*44的矩阵阵列焊点区相连，40*44的矩阵阵列焊点区分别与正面测试金手指以及反面测试金手指相连。本实用新型达到的有益效果是1、方便进行各种金手指接触式的测试转接板的制作。2、完全杜绝由于人为或存放不当原因导致转接损坏。3、减少制作测试转接板的时间。 4、降低对测试转接板的制作人员的技术水平要求。
图1本实用新型的正面结构示意图。图2本实用新型的反面结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图更进一步说明本实用新型的结构特征。参照图1、2，一种矩阵式阵列测试转接板，包括板体1，板体1设有正面测试金手指 2>40*44的矩阵阵列焊点区3、两个标准20pin连接器焊接区4以及反面测试金手指5，所述的40*44的矩阵阵列焊点区3相邻焊点6连接，两个标准20pin连接器焊接区4通过导线与40*44的矩阵阵列焊点区3相连，40*44的矩阵阵列焊点区3分别与正面测试金手指1 以及反面测试金手指5相连。矩阵式阵列测试转接板起到连接测试主板和测试产品的作用，把测试主板上输出的信号传输到测试产品中。对产品进行测试。两个标准的20PIN的排线连接器与两个标准20pin连接器焊接区4连接将测试主板到测试转接板间连接。板体1上有一个40*44的矩阵阵列焊点区3，这些焊点6连接测试主板过来的40个PIN的信号，另外的相邻焊点6连接用于测试目标产品的焊盘，通过对这些相对应焊接，把对应的线路连接起来，从而实现测试主板到测试目标的连接。在侧边丝印上相对应的从测试主板过来的对应信号，在下边丝印对应测试目标的焊盘序列，方便寻找焊接。测试焊盘和测试产品的连接，通过压力来实现连接。
权利要求1. 一种矩阵式阵列测试转接板，其特征在于包括板体，板体设有正面测试金手指、 40*44的矩阵阵列焊点区、两个标准20pin连接器焊接区以及反面测试金手指，所述的 40*44的矩阵阵列焊点区相邻焊点连接，两个标准20pin连接器焊接区通过导线与40*44的矩阵阵列焊点区相连，40*44的矩阵阵列焊点区分别与正面测试金手指以及反面测试金手指相连。
专利摘要本实用新型公开了一种矩阵式阵列测试转接板，以解决现有技术中存在测试费时、费力、易出错以及通用性不强的问题。其特征在于包括板体，板体设有正面测试金手指、40*44的矩阵阵列焊点区、两个标准20pin连接器焊接区以及反面测试金手指，所述的40*44的矩阵阵列焊点区相邻焊点连接，两个标准20pin连接器焊接区通过导线与40*44的矩阵阵列焊点区相连，40*44的矩阵阵列焊点区分别与正面测试金手指以及反面测试金手指相连。采用本新型达到降低成本、方便制作以及节约时间的有益效果。
文档编号G09G3/00GK202159472SQ201120304329
公开日2012年3月7日 申请日期2011年8月21日 优先权日2011年8月21日
发明者卢建灿, 骆志锋 申请人:深圳市同兴达科技有限公司