一种颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法

文档序号:8549925阅读:461来源:国知局
一种颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法
【技术领域】
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[0001]本发明涉及一种颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法,属医学测量技术领域。【背景技术】:
[0002]颅骨缺损区头皮表面积临床测量对骨瓣修补术后颅脑疾病患者病情发展状况及后续治疗方案的确定具有重要意义。目前颅骨缺损区头皮表面积临床测量多采用目测或者CT图像间接测量的方法。上述方法存在以下缺点:1、目测法与医务人员经验有关,主观性强,存在误差。2、CT图像间接测量费用高,需要专业人员操作,不便于临床快速测量。目前国内外颅骨缺损区头皮表面积测量,在以下几方面有较大改进:1、医务人员积累临床经验,提高目测准确性。2、凭经验观察,减少CT扫描,降低医疗费用。但颅骨缺损区头皮凸凹不平,仍导致目前常用方法无法完全满足准确、客观、方便、长期、重复、快速临床颅骨缺损区头皮表面积测量要求。
[0003]经文献检索,未发现与本发明技术方案相同的公开报道。

【发明内容】

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[0004]本发明的目的在于克服现有颅骨缺损区头皮表面积测量之不足,提供一种颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法。
[0005]本发明的颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法,其具体步骤如下:
[0006]1、将带网格紫外线光感不可逆变色无弹性超薄柔性材料覆盖在需检测对象的颅骨缺损区头皮表面,描绘颅骨缺损区边缘;
[0007]2、在距颅骨缺损区头皮表面1.0米处用辐照强度为80 μ w/cm2的紫外线灯照射20s ;
[0008]3、按常规方法数变色网格数目计算颅骨缺损区头皮表面积。
[0009]本发明所用的器件均为市场购买。
[0010]本发明的优点在于:成本低廉、操作方便,能够准确、客观、快速地进行临床颅骨缺损区头皮表面积的测量。
【具体实施方式】
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[0011]本发明的颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法,其具体步骤如下:
[0012]1、将带网格紫外线光感不可逆变色无弹性超薄柔性材料覆盖在需检测对象的颅骨缺损区头皮表面,描绘颅骨缺损区边缘;
[0013]2、在距颅骨缺损区头皮表面1.0米处用辐照强度为80 μ w/cm2的紫外线灯照射20s ;
[0014]3、按常规方法数变色网格数目计算颅骨缺损区头皮表面积。
[0015]本发明所用的器件均为市场购买。
[0016]实际应用表明:本发明不仅成本低廉、操作方便,还能准确、客观、快速地进行临床颅骨缺损区头皮表面积的测量。
【主权项】
1.一种颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法,其特征在于该方法的具体步骤如下: a.将带网格紫外线光感不可逆变色无弹性超薄柔性材料覆盖在需检测对象的颅骨缺损区头皮表面,描绘颅骨缺损区边缘;b.在距颅骨缺损区头皮表面1.0米处用辐照强度为80 μ w/cm2的紫外线灯照射20s ; c.按常规方法数变色网格数目计算颅骨缺损区头皮表面积。
【专利摘要】本发明涉及一种颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法,属医学测量技术领域。本发明的颅骨缺损区头皮表面积的临床测量方法,其具体步骤为:1、将带网格紫外线光感不可逆变色无弹性超薄柔性材料覆盖在需检测对象的颅骨缺损区头皮表面,描绘颅骨缺损区边缘;2、在距颅骨缺损区头皮表面1.0米处用辐照强度为80μw/cm2的紫外线灯照射20s;3、按常规方法数变色网格数目计算颅骨缺损区头皮表面积。本发明所用的器件均为市场购买。本发明的优点在于:成本低廉、操作方便,能够准确、客观、快速地进行临床颅骨缺损区头皮表面积的测量。
【IPC分类】A61B5-107
【公开号】CN104873199
【申请号】CN201510274090
【发明人】李宝磊, 赵磊, 安镇宙, 刘亚杰, 张榆锋, 施心陵
【申请人】云南大学
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2015年5月26日
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